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高低溫試驗箱的靜電引發(fā)的危害

發(fā)布時間: 2022-11-09  點擊次數(shù): 696次

高低溫試驗箱的靜電引發(fā)的危害

 

一、高低溫試驗箱靜電放電(ESD)形成的風險:

  1、引起高低溫試驗箱的問題或者誤動作,形成電磁干擾;

  2、擊穿集成電路和精細電子元器件,或促使元器件老化增加產(chǎn)品故障率;

  3、高壓靜電放電形成電擊,危及人身安全;

  4、在易燃易爆品或粉塵、油污密集的場合極其容易引起爆炸。 

  二、靜電引起(ESA)引起的風險:

  1、電子工業(yè):吸附灰塵,造成集成電路和半導體元器件覆蓋塵埃大大降低產(chǎn)品運行效率;

  2、膠片和塑料工業(yè):容易使膠片或薄膜收卷不齊,膠片、CD塑盤沾染灰塵影響質(zhì)量;

  3、造紙印刷工業(yè):紙張收卷不齊,套印禁絕,吸污嚴重,甚至紙張黏結(jié),影響出產(chǎn);

  4、紡織工業(yè):形成根絲飄動、纏花斷頭、紗線糾結(jié)等風險。

  上述問題就是關(guān)于靜電所引發(fā)的相關(guān)危害的描述,當然在高低溫試驗箱大型制造廠家都會有相關(guān)的防護措施杜絕靜電額產(chǎn)生


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