高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備TSD-50F-2P
簡(jiǎn)要描述:高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備TSD-50F-2P用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等,同時(shí)可通過此試驗(yàn),進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
產(chǎn)品型號(hào): TSD-80F-2P
所屬分類:二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
更新時(shí)間:2024-06-27
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備TSD-50F-2P箱體結(jié)構(gòu):
外壁材料由高質(zhì)量1.5mm厚冷軋鋼板靜電雙面噴塑,外部表面具有強(qiáng)抗腐蝕能力
內(nèi)部材料:SUS304不銹鋼板,厚度為1.2mm 保溫材料:優(yōu)質(zhì)超細(xì)玻璃纖維保溫棉,厚度為150mm
箱門:全開單翼型,帶有雙層硅橡膠密封和門鎖。觀察窗:箱體帶多層玻璃觀測(cè)窗,雙面電加熱 355*355mm
電路控制板: 在箱體后面的框架內(nèi)
循環(huán)系統(tǒng):箱內(nèi)風(fēng)道采用雙循環(huán)系統(tǒng),長(zhǎng)軸軸流風(fēng)機(jī),不銹鋼多翼式離心風(fēng)輪及循環(huán)風(fēng)道組成;提高了空氣流量,加熱和冷卻的能力,大幅改善了試驗(yàn)箱的溫度均勻性。
高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備TSD-50F-2P
型號(hào)及規(guī)格:
1、型號(hào): TSD-50F-2P
2、工作室尺寸(mm): 400×350×350
3、高溫室溫度范圍: +60~+150℃
4、低溫室溫度范圍: -40~0℃
5、轉(zhuǎn)換時(shí)間: ≤15s
6、恢復(fù)時(shí)間: ≤5min
7、預(yù)冷溫度范圍: ≤-70℃
8、溫度波動(dòng)度: ±0.5℃
9、溫度均勻度: ≤2℃
10、高溫室溫度: 200℃~300℃
11、高溫室升溫時(shí)間 +25℃~+150℃≤30min
12、低溫室降溫時(shí)間 +25℃~-70℃≤35min
備注: 性能指標(biāo)在環(huán)境溫度15~25℃ 空載時(shí)測(cè)得
設(shè)備特點(diǎn)
提籃在高低溫室內(nèi)切換轉(zhuǎn)移,采用氣動(dòng)控制,轉(zhuǎn)換時(shí)間短,溫度恢復(fù)時(shí)間短,溫變速度快,設(shè)備整體結(jié)構(gòu)緊湊,體積小,采用兩箱法,提高了工作室的溫度均勻性,但試件一直處于動(dòng)態(tài),工作室不能留有測(cè)試孔,因此不能帶電、帶信號(hào)、帶氣源測(cè)試
新一代外觀設(shè)計(jì),箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng)、控制技術(shù)均做較大改進(jìn),技術(shù)指標(biāo)更加穩(wěn)定,運(yùn)行更可靠,維護(hù)更方便,備有高檔萬(wàn)向滾輪,方便在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)移動(dòng)。
超大觸摸屏操作,外觀更加簡(jiǎn)潔大方,操作更加容易,設(shè)定值實(shí)際值實(shí)時(shí)顯示。
真空雙層玻璃:大視窗設(shè)計(jì),飛利浦高亮度照明,加熱無霧氣
為編程和文檔處理提供更多的接口選項(xiàng),記錄量大:SD卡儲(chǔ)存,USB輸出,電腦連接打印,大倉(cāng)有紙無紙記錄等選配
可靠性高:主要配件選配著名專業(yè)廠商,保證提高整機(jī)可靠性