三廂式冷熱沖擊試驗(yàn)箱TSD-50F-2P
簡(jiǎn)要描述:三廂式冷熱沖擊試驗(yàn)箱TSD-50F-2P適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用金屬材料如體心立方晶格的中低強(qiáng)度鋼,當(dāng)其服役溫度降低時(shí),起塑性、韌性便急劇降低,使材料脆化。
產(chǎn)品型號(hào):
所屬分類:三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
更新時(shí)間:2024-06-27
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
三廂式冷熱沖擊試驗(yàn)箱TSD-50F-2P
冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī),用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在zui短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試
目的
實(shí)際上冷熱沖擊試驗(yàn)箱作為進(jìn)行冷熱沖擊試驗(yàn)的一種工具,應(yīng)用在產(chǎn)品研制的不同階段時(shí)的目的是不同的:
1、工程研制階段可用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和工藝缺陷;
2、產(chǎn)品定型或設(shè)計(jì)鑒定和批產(chǎn)階段驗(yàn)收決策提供依據(jù);
3、作為環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)用時(shí),目的是剔除產(chǎn)品的早期故障。
執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
1、GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法;
2、GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法;
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn);
4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn);
5、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);
6、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。
7、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式
9、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化
10、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
11、GB/T 2423.22-2002溫度變化
三廂式冷熱沖擊試驗(yàn)箱TSD-50F-2P特點(diǎn)
1、分高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分,測(cè)試樣品放置測(cè)試區(qū)*靜止,采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu),強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū),完成冷熱溫度沖擊測(cè)試;既可作冷熱沖擊試驗(yàn)箱使用又可以作單獨(dú)的高溫箱或單獨(dú)的低溫箱使用;
2、可由測(cè)試孔外加負(fù)載配線測(cè)試部件;
3、大型彩色LCD觸控對(duì)話式微電腦控制系統(tǒng),操作簡(jiǎn)單易懂,運(yùn)行狀態(tài)一目了然;
4、全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)+環(huán)保冷媒,板式冷熱交換器與二元式超低溫冷凍系統(tǒng);
5、具有RS-232或RS-485通訊接口,可連接電腦遠(yuǎn)程操控,使用便捷;
6、可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),可選擇2槽或3槽之功能,并具有高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能;
7、可在預(yù)約開(kāi)機(jī)時(shí)間運(yùn)轉(zhuǎn)中自動(dòng)提前預(yù)冷、預(yù)熱、待機(jī)功能;
8、可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù),自動(dòng)(手動(dòng))除霜;
9、采用日本Q8-900控制器人機(jī)界面友好,程序設(shè)定方便,異常及故障排除顯示功能齊全。